Strona 1 z 1
Charakteryzacja zbiorów zwartych
: 27 cze 2012, o 11:58
autor: Mikolaj9
Czy zna ktoś warunek równoważny zwartości (pokryciowej) dla dowolnej przestrzeni topologicznej?
Charakteryzacja zbiorów zwartych
: 27 cze 2012, o 13:08
autor: Majeskas
W moim skrypcie z Topologii zwartość jest definiowana dla przestrzeni metryzowalnych poprzez warunek pokryciowy lub dwa inne równoważne:
1) z każdego ciągu punktów w \(\displaystyle{ X}\) można wybrać podciąg zbieżny w tej przestrzeni,
2) każdy zstępujący ciąg niepustych zbiorów domkniętych w \(\displaystyle{ X}\) ma niepuste przecięcie.
a dla dowolnej przestrzeni topologicznej:
I) przestrzeń jest Hausdorffa
ii) spełniony jest warunek pokryciowy.
Charakteryzacja zbiorów zwartych
: 27 cze 2012, o 16:41
autor: Mikolaj9
Znalazłem: przestrzeń
\(\displaystyle{ X}\) jest zwarta wtw. gdy dla dowolnej rodziny scentrowanej podzbiorów
\(\displaystyle{ X}\) przecięcie domknięć elementów tej rodziny jest niepuste.
Podobny warunek do:
każdy zstępujący ciąg niepustych zbiorów domkniętych w ma niepuste przecięcie.
Nie wykorzystuje się w nim w ogóle pojęcia metryki, więc może działa dla szerszej klasy przestrzeni?
Charakteryzacja zbiorów zwartych
: 27 cze 2012, o 16:57
autor: Majeskas
Obstawiam, że problem polega na tym, że dla przestrzeni niemetryzowalnej nie wszystkie równoważności zachodzą. W dowodzie pokazuje się, że
\(\displaystyle{ 2)\ \Rightarrow\ \textrm{pokrycie}}\)
\(\displaystyle{ \textrm{pokrycie}\ \Rightarrow\ 3)}\)
\(\displaystyle{ 3)\ \Rightarrow\ 2)}\)
W dowodzie drugiej implikacji rzeczywiście nie wykorzystuje się istnienia metryki. W dowodach pozostałych implikacji wykorzystuje się metryzowalność. Oczywiście implikację odwrotną do drugiej dostajemy poprzez przechodniość. Przypuszczam (choć mogę się mylić), że bez założenia metryzowalności implikacja odwrotna do drugiej nie zachodzi.